方塊電阻測試儀/電阻測試儀型號：DP-ST-21

發布時間：2013/11/30

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2. 方塊電阻測試儀/電阻測試儀型號：DP-ST-21

方塊電阻測試儀是種依照類似的家標準和美A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻（表面電阻）的新型儀器，可用于測量般半導體材料、導電薄膜（ITO透明氧化膜），金屬薄膜……等物質的薄層電阻。

該儀器以大規模集成電路為主要核心；用基準電源和運算放大器組成度穩流源；帶回路有效正常示電路；并配以大型LCD顯示讀數，使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測量速度快、度的特點。

◆ 特點：

采用大規模集成電路作為儀器的主要分，測量準確穩定，低耗；

以大屏幕LCD顯示讀數，直觀清晰；

采用單個電池供電，帶電池欠壓示；

體積≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g；

特制之手握式探筆，形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜

探頭帶抗靜電模塊

◆ 標：

測量范圍	按方塊電阻量值大小分為二個量程檔： 1.方塊電阻 1.00～199.99Ω/□； 2.方塊電阻 10.0～1999.9Ω/□；
恒流源	測量過程誤差：≤±0.8%
模數轉換器	量程：0～199.99mv；分辨率：10μv；方式：LCD大屏幕顯示；性，量程均自動顯示；小數點同步顯示；
測量不確定度	在整個量程范圍內，測量不確定度≤5%
四探針探頭規格	間距：1mm、1.59mm、3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；緣電阻≥500MΩ
電源	9V疊層電池1節

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